定量分析器

ICP-AES サーモフィッシャー社製iCAP6300 DUO
ICPによってサンプルを原子化・熱励起し、これが基底状態に戻る際の発光スペクトルから、元素の同定・定量を分析。原子吸光法と異なり、一度に数種類もの元素を分析可

電位差自動滴定装置 メトローム社製905TITRANDO
滴定分析に必要だった熟練さがなくとも、電動ビューレットと電極を用いて精度よく測定

原子吸光光度計 日立社製Z-3300, 日立製Z-5310
水溶液中に含まれる微量元素の定性・定量分析

分光光度計 島津社製UV-1700, 日立社製U-1500
水溶液中の分子、イオンの定性・定量分析

表面解析器

走査型電子顕微鏡(SEM) 日本電子社製JSM-6390LA
2次電子像による試料表層部の高倍率観察

EDS(エネルギー分散型X線分光) 日本電子社製JSM-6390LA
微量金属成分の定性・定量的解析

カラー3Dレーザー顕微鏡 KEYENCE社製VK-9700
素材の表面粗さや凸凹の定量的解析

デジタルマイクロスコープ KEYENCE社製VHX-2000
微小領域の形状観察、及び三次元化観察

蛍光X線膜厚測定器
 日立ハイテクサイエンス社製SFT9350

  • めっき皮膜の厚さを非破壊にて測定。
  • 高輝度X線ビームの照射、ドリフト型半導体検出器により微小、薄膜の測定に対応可能。
  • コリメーターサイズ:φ0.1㎜まで測定可能

蛍光X線膜厚測定器
 日立ハイテクサイエンス社製SFT9550

  • めっき皮膜の厚さを非破壊にて測定。
  • 高輝度X線ビームの照射、ドリフト型半導体検出器により微小、薄膜の測定に対応可能。
  • 無電解Ni-PめっきのP含有率まで測定可能。
  • コリメーターサイズ:φ0.1㎜まで測定可能。

蛍光X線膜厚測定器
 日立ハイテクサイエンス社製SFT3300

  • めっき皮膜の厚さを非破壊にて測定。
  • 縦300×横400の大きいワークサイズの測定可能。
  • コリメーターサイズ:φ0.1㎜まで測定可能。

蛍光X線膜厚測定器
 (株)フィッシャー・インストルメンツ社製XDL-B XYmZ

  • めっき皮膜の厚さを非破壊にて測定。
  • ハウジングに開口部があり大きな板状サンプルの測定が可能であり、高さのあるワーク(100㎜まで)の測定が可能。
  • コリメーターサイズ:φ0.3mm

微少面積分光色差計 日本電色工業社製VSS400
測定試料を顕微鏡方式により、微小面積を非接触で分光反射率・分光透過率を測定

渦電流式膜厚計 SANKO社製SDM-3100
鉄以外の金属(アルミ・アルミ合金・銅など)又は磁性のないステンレス(オーステナイト系)に表面処理された絶縁性皮膜(アルマイト・塗装・ライニング)などの膜圧測定

ソルダーチェッカー RHESCA社製SAT-5200
電子部品等のハンダ濡れ性試験

半田ディップ槽 goot社製POT-200C, JAPANUNIX社製USS180D, HAKKO社製487
電子部品等のハンダ濡れ性試験

ギ酸還元リフロー装置 ユニテンプジャパン社製RSS-110-S
無電解Niめっきの半田濡れ角試験

耐食性試験器

PCT試験器 HIRAYAMA社製PC-242RS
100℃以上で、かつ高密度な水蒸気雰囲気を再現し、試験槽内の水蒸気圧力を試験品内部の水蒸気分圧よりも極端に高めることにより、試験品内部への水分の浸入を時間的に短縮する、電子部品材料の耐湿評価の加速寿命試験。

恒温恒湿保管槽 ESPEC社製LHU-114
温度・湿度の急激な変化に対する製品の耐性評価試験

恒温保管槽 EYELA社製WFO-450D
高温熱処理での素材評価試験

塩水噴霧試験器 板橋理化工業社製SQ-800-S
塩水噴霧による耐腐食性試験評価

低温恒温恒湿器 楠本化成(株)社製SXN402
温度、湿度サイクル試験による耐久性評価

その他

断面研磨機 Struers社製LaboPol-5
断面切断機により切断した試料を研磨し、内部構造を観察しやすくする

断面切断機 Struers社製Accutom-5
変形の無い試料を精密に切断するための機械